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1、电站电气部分集中控制装置通用技术条件(试验方法)1绝缘电阻a.按绝缘电阻测量的规定对装置的台和屏用相应电压的兆欧表测量绝缘电阻,测量时间不小于5s。b.在试验整机对地绝缘电阻时,应取出装有半导体器件的印制板。2绝缘强度a.按绝缘强度的规定用击穿电压测试仪进行绝缘强度试验。试验电压从零起始,在5s内逐渐升到规定值并保持Imin,随后迅速平滑地降到零值。测试完毕断电后用接地线对被试品进行安全放电。b.对额定电压为60V以下的半导体器件,在对整机进行绝缘强度试验时应采取防护措施,如拔出有关插件或短接有关电路等。3低温试验低温室的温度偏差不大于2。装置在低温室内各表面与相应的室内壁之间的最小距离不小于
2、150mm。低温室以不超过lCmin速度降温,待温度达到+5C并稳定后开始计时,保温2h。再将装置连续通电2h(交、直流电压均为额定值),检查装置的各种功能应正常,然后将装置断电,以不超过lCmin速度升温,待低温室内温度恢复到正常温度并稳定后,将装置取出低温室进行外观检查。4高温试验高温室的温度偏差不大于2,相对湿度不超过50%(+35)。装置在高温室内各表面与相应的室内壁之间的最小距离不小于15Omm。高温室以不超过1。Cmin速度升温,待温度达到+40并稳定后开始计时,保温2h。再使装置连续通电2h(交、直流电源电压均为额定值),检查装置的各种功能应正常。然后将装置断电,以不超过lCmi
3、n速度降温,待高温室内温度恢复到正常温度并稳定后,将装置取出高温室进行外观检查。5湿热试验试验室的温度偏差不大于2,相对湿度偏差不大于2%。装置各表面与相应的室内壁之间最小距离不小于150mm,凝结水不得滴落在试验样品上。试验室以不超过1Cmin速度升温,待温度达到+40并稳定后再加湿到90%95%范围内,保持48h在试验过程最后12h内,按5.5条规定用相应电压的兆欧表测量绝缘电阻,测量时间不小于5s。试验结束后,先把试验室内的相对湿度在半小时内降到753%,然后在半小时内将试验室的温度恢复到正常温度并稳定后,将装置取出试验室进行外观检查。注:上述3、4、5条各项试验对不便进行整机试验的大型
4、产品,根据GB2421可按装置技术条件中的规定对关键部件进行相应试验。6抗高频干扰试验按5.8条规定,以暂态高频干扰波发生器在被试装置处于工作状态下进行试验。a.共模干扰试验:将干扰波加在每组输入(或输出)端子与地之间;b.串模干扰试验:将干扰波加在被试回路端子之间。试验时间22.2s,试验接线见附录B(参考件)。7振动试验将装置的关键部件按实际使用情况固定在振动台上,给装置施加额定电参数,按5.11条规定进行振动试验。7检验规则产品检验分出厂检验(交收检验)和型式检验(例行检验)两种。附录B抗高频干扰试验电路(参考件)Bl抗共模高频干扰试验电路试验电路如图Bl所示。对被试装置施加额定电压的电源,当对某回路进行抗干扰试验时,应将电感L串入该输入(输出或电源)回路的外回路中。此处所指的外回路,是模拟5.8.21条与5.8.2.2条所指的外部回路。高频干扰波通过电容C加于装置被试回路与外壳之间,外壳应接地。高麒干扰波发生器图BlB2抗串模高频干扰试验电路试验电路如图B2所示。电源、外电路的连接与抗共模干扰试验相同,不同的是,干扰波加于同一组的两条回路之间。被试集控装置或部件高频干扰波发生器战回京H热S的鞘图B2