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1、国军标和美军标对元器件的质量分级根据用途，元器件的质量等级可分为：用于元器件生产控制、选择和采购的质量等级和用于电子设备可靠性预计的质量等级两类，两者有所区别，又相互联系。用于元器件生产控制、选择和采购的质量等级。元器件的质量等级与其生产过程执行的规范是密不可分的，规范要求质量控制的严格程度，决定了元器件质量等级的高低。在大多数军工产品中采用国产元器件的质量等级分为：（七专）7905、（七专）8406、（七专）84061IA（半导体分立器件）、（七专）补充技术协议、国军标（GJB）等五种。前四种可以认为是四种质量等级，而国军标由于参照采用了美国军用（MlL）标准，其质量等级的分类方法比较复杂，
2、器件分为34个质量保证等级（简称质量等级）；元件分为有可靠性指标的和无可靠性指标的两类，对于有可靠性指标的元件可分为若干个失效率等级。国军标元器件的质量等级包括了：器件的质量保证等级和有可靠性指标元件的失效率等级，如表1所示。表1国至标元零件段量分级序号元器件类别质量分级（从低到高）1半导体分立器件GJB33A-97质量保证等级分为：JP（督军级）、JT（特军级）、JCT（超特军级）、JY（宇航级）2半导体IK成电路GJB597A-96质量保证等银分为：Bl皴、B级、Sa3混合集成电路GJB2438-95质量保证登记分为：HI级、H级、KSi4有可靠性指标的元件相应的元件总规范失效率等级分为：
3、L（亚五级）、M（五级）、P（六级）、R（t级）、S（八级）进口元器件的质量分级更为复杂，考虑到较多的是采用美国军用元器件及部分欧洲空间局（ESA）元器件，所以简要介绍MlL和欧洲空间局空间元器件协调组（ESA/SCC）元器件质量分级的情况。美军标元器件的质量分级如表2所示。表2美军标元器件质量分级表2美军标元器件陵量分级序号依据标准质量标准（从低到高）1半导体分立器件MIL-S-19500质量保证等级分为：JAN（音军级）、JANTX（特军级）、JANTXV（超特军级）、JANS（宇航级）2微电路MIL-M-38510质量等级与保证等级分为:883级及B皴、S皴3混合集成电路MIL-PRF-
4、38534质量保证等级分为：D级、E锹、G皴、H级、K级4半导体集成电路MIL-I-38535质量保证等级分为：M级、Q级、V级5有可靠性指标的元件相应的元件总规范失效普级分为：L（亚五级）、M（五级）、P（六级）、R（t级）、S（A）从1994年6月美国宣布对军用标准实行改革以来，表2中涉及的美军标中，MIL-M-38510已并入MIL-1-38535,而且都已改成性能规范（规范代号的字母改为MIL-PRF-,以后的数字不变，如MIL-PRF-38535C）,内容也有较大的变化，例如采用统计过程控制（SPC）技术后，原来军用规范规定要100%做的筛选项目，允许减少甚至可以全部免除。因此，在选
5、择和采购元器件时，必须加以注意。这里特别要对微电路（包括：半导体集成电路及混合集成电路）的质量等级作些说明，其中B级与S级是微电路的质量保证等级，此外凡符合MIL-STD-883微电路试验方法和程序1.2.1条规定的微电路，属于质量等级为883级的微电路。其特点是微电路生产单位声称已按总规范MIL-M-38510及相应的详细规范进行质量控制，但未进行认证。因此，具有不同信誉的微电路生产单位，电路的质量将有很大差别。从1995年5月14日开始MIL-M-38510并入MIL-PRF-38535后，已不生产B级、S级微电路，所以现在按MIL-M-38510采购的微电路，其质量等级大多数是883级，
6、在883级微电路中，有些元器件供应商还根据对电路不同的质量控制，分为883B和883S,但其质量等级都不如B级有保证。ESA/SCC元器件的质量分级较有规律，所有元器件都分为B、C两级，但在采购时还可选择不同的批验收试验（缩写LAT,相当质量一致性检验），由于LAT分为1、2、3类，所以ESA/SCC元器件可分为Bl、B2、B3、CkC2、C3六个质量等级。用于电子设备可靠性预计的质量等级当按GJB/Z299C或MlLTDBk217进行电子设备可靠性预计时，在该标准中列出了另一种质量等级与表4T或表4-2列出的质量保证等级及失效率等级有一一对应的关系。由于质量保证等级及失效率等级有时也可简称为
7、质量等级，所以两者很易混淆。但只有军用级元器件才有质量保证等级及失效率等级，而对于所有元器件都有进行可靠性预计的质量等级，这是两者主要的差别。附：常用国军标及其等效采用的美国军用标准国军标编号.GJB33A-97.国军标名称半导体分立器件总规范”等效美军标编号，MIL-S-19500H.GJB597A-96半导体集成电路总规范，MIL-M-38510G.GJB2438-95混合集成电路总姬MIL-H-38534CGJB63B-2001有可靠性指标的固体电解质笆电容器总就强MIL-C-39003.GJB65B-99有可靠性指标的电磁继电器总规限MlL-R-39016。GJB128A-97半导体分立器件试验方法“MIL-STD-750H.GJB360A-96电子及电气元件试验方法MIL-STD-202F.GJB548A-96.微电子器件试验方法和程序.，MIL-STD-883D.GJB1217-91电连接器试验方法MIL-STD-1344A.GJB4027-2000军用电子元器件破坏性物理分析方法。MIL-STD-1580A.
