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1、ICP发射光谱分析目 录 ICPICP发射光谱发射光谱分析原理分析原理 ICP ICP发射光谱仪的构成发射光谱仪的构成 ICP ICP发射光谱发射光谱分析分析方法方法 样品的前处理样品的前处理ICPICP发射光谱发射光谱分析分析原原 理理ICP-AES(OES)ICP-AES(OES) ICP Atomic Emission Spectrometry (Optical Emission Spectrometry) ICP发射光谱分析法元素分析元素分析溶液进样溶液进样ICP-AES可测定的元素等离子体等离子体磁力线磁力线高频耦合线圈高频耦合线圈样品样品粒子粒子ICP：Inductively Co
2、upled Plasma电感耦合等离子体等离子体等离子体“高温下电离气体（Ionizedgas）”“离子状态”“阳离子和电子数几乎相等阳离子和电子数几乎相等”等离子体的等离子体的最高温度最高温度10000K10000K元素元素被激发被激发（发发光源光源）ICPICP发射光谱发射光谱分析分析电感耦合等离子体光源（ICP）等离子体（Plasma）一般指电离度超过0.1%被电离了的气体，这种气体不仅含有中性原子和分子，而且含有大量的电子和离子，且电子和正离子的浓度处于平衡状态，从整体来看是出于中性的。 等离子体光源的分区NAZ-分析区IRZ- 初始辐射区PHZ-预热区尾焰9离子发射光谱的产生 E1E
3、1 E2E2 离子化离子化（ （游离游离） ） 激发状态激发状态 频率频率 电子电子 原子核原子核 E0E0 离子离子 能级能级 离子化离子化 在等离子体中元素原子化、离子化在等离子体中元素发射特征波长的光ICP发射光谱分析的基本原理 ICP发射光谱分析过程主要分为三步, 即激发、分光和检测.1.利用等离子体激发光源（ICP）使试样蒸发汽化, 离解或分解为原子状态，原子可能进一步电离成离子状态，原子及离子在光源中激发发光。2.利用光谱仪器将光源发射的光分解为按波长排列的光谱。3.利用光电器件检测光谱，按测定得到的光谱波长对试样进行定性分析，按发射光强度进行定量分析 I = Nmh=KNmN0e
4、-Em/ kT (1) 在一定的实验条件下: I = aC (2) a为常数，C为目的元素的浓度 考虑某些情况下有一定程度的谱线自吸, 对(2)加以修正 I = aCb (3) b为自吸系数, 一般情况下b1。在ICP光源中多数情况下b1。谱线强度与浓度的关系ICP-AES的特长溶液进样、标准溶液易制备溶液进样、标准溶液易制备高灵敏度高灵敏度（亚（亚ppbppb）高精度高精度（CV 1%CV 1%）化学干扰少化学干扰少线性范围宽线性范围宽（个数量级个数量级）可同时进行可同时进行多元素多元素的定性定量分析的定性定量分析可以分析的样品可以分析的样品1:1:金属金属( (钢铁钢铁, ,有色金属有色金
5、属) )2:2:化学化学, ,药品药品, ,石油石油, ,树脂树脂, ,陶瓷陶瓷3:3:生物生物, ,医药医药, ,食品食品4:4:环境环境( (自来水自来水, ,环境水环境水, ,土壤土壤, ,大气粉尘大气粉尘) )5:5:可以分析其他各种各样样品中的金属可以分析其他各种各样样品中的金属备注备注: :固体样品必须进行前处理固体样品必须进行前处理( (液化液化) )ICPICP发射光谱仪的构成发射光谱仪的构成ICP-AES光谱仪结构 ICP 分分光光器器 检检测测器器 数数据据处处理理 R R. .F F 发发生生器器 溶液-雾化 发光 元素 光-电信号 结果等离子火炬与频率关系R.F高频发生
6、器27.12MHz,40.68MHz高频发生器 输出功率稳定性好、点火容易、发热量小、火焰稳定、有效转换功率高、能对不同样品及不同浓度变化时抗干扰能力强。ICP-AES 样品导入部将样品溶液雾化连续导入ICP中高频线圈等离子炬管样品溶液雾室雾化器冷却气 (Ar)等离子（辅助）气 (Ar)ICP光源的气流1冷却气冷却气起冷却作用，保护石英炬管免被高温起冷却作用，保护石英炬管免被高温融化融化1辅助气辅助气“点燃点燃”等离子体等离子体1雾化气雾化气形成样品气溶胶形成样品气溶胶 将样品气溶胶引入将样品气溶胶引入ICP 对雾化器、雾化室、中心管起清洗对雾化器、雾化室、中心管起清洗作用作用Fassel炬管
7、等离子炬管等离子炬管等离子炬管分为输入载气Ar的内层管、输入辅助气Ar的中层管和输入等离子气Ar的外层管。 Q外层管：外层管：外层管通Ar气作为冷却气，沿切线方向引入，并螺旋上升，其作用：第一，将等离子体吹离外层石英管的内壁，可保护石英管不被烧毁；第二，是利用离心作用，在炬管中心产生低气压通道，以利于进样；第三，这部分Ar气流同时也参与放电过程Q中层管：中层管： 中层管通人辅助气体Ar气，用于点燃等离子体。 内层管：内层管：内层石英管内径为12mm左右，以Ar为载气，把经过雾化器的试样溶液以气溶胶形式引入等离子体中。冷却气冷却气 ( (等离子气等离子气)(9)(9L/min-20L/min)L
8、/min-20L/min)等离子气等离子气 ( (辅助气辅助气)(0.2)(0.2L/min-1.5L/min)L/min-1.5L/min)载气载气 ( (注入气注入气)(0.2)(0.2L/min-1.5L/min)L/min-1.5L/min)气动雾化器(同心型)气动雾化器气动雾化器的结构简单，通常分为同轴型气动雾化器的结构简单，通常分为同轴型雾化器和直角型雾化器。雾化器和直角型雾化器。 同轴型雾化器结构简单，易于制作，应用较为普遍。直同轴型雾化器结构简单，易于制作，应用较为普遍。直角型雾化器不易被悬浮物质堵塞。但雾化效率较低，喷嘴角型雾化器不易被悬浮物质堵塞。但雾化效率较低，喷嘴容易堵
9、塞，进样速度受载气压力的影响。改用蠕动泵驱动容易堵塞，进样速度受载气压力的影响。改用蠕动泵驱动雾化器，可避免载气压力对样品提升量的影响。雾化器，可避免载气压力对样品提升量的影响。 旋流雾室双筒雾室等离子炬观测位置PMT 检检测器测器光栅光栅等离子体等离子体矩管矩管球面球面准直镜准直镜UV 光谱光谱球面球面聚光镜聚光镜IR 光谱光谱ICP-AES分光器选择分辨出目的元素的特征谱线选择分辨出目的元素的特征谱线检测器-光电倍增管光电倍增管工作原理阴极计算机功能程序控制：仪器各部件的起动、关闭程序控制：仪器各部件的起动、关闭时实控制：时间监控、远程诊断、信息转移时实控制：时间监控、远程诊断、信息转移数
10、据处理数据处理谱线数据库专家系统谱线数据库专家系统ICP发射光谱分析方法定性分析定性分析定量分析定量分析半定量分析半定量分析需进行使样品溶液化的前处理需进行使样品溶液化的前处理ICP发射光谱分析方法定性分析定性分析定性分析要确认试样中存在某个元素，需要在试样光谱中找出三条或三条以上该元素的灵敏线，并且谱线之间的强度关系是合理的；只要某元素的最灵敏线不存在，就可以肯定试样中无该元素。定量分析定量分析工作曲线法标准样品的组成与实际样品一致在工作曲线的直线范围内测定使用无干扰的分析线定量分析标准加入法标准加入法测定范围的工作曲线的直线性溶液中干扰物质浓度必须恒定应有1-3个添加样品使用无干扰的分析线
11、进行背景校正定量分析定量分析内标法在试样和标准样品中加入同样浓度的某一元素（内标元素），利用分析元素和内标元素的谱线强度比与待测元素浓度绘制工作曲线，并进行样品分析。半定量分析半定量分析半定量分析有些样品不要求给出十分准确的分析数据，允许有较大偏差，但需要尽快给出分析数据，这类样品可采用半定量分析法。ICP光源的半定量分析尚无通用方法，因仪器类型和软件功能而异，应用不广泛。灵敏度 、检出限、背景等效浓度ICP发射光谱分析中的干扰物理干扰化学干扰电离干扰光谱干扰干扰的校正基体匹配 可消除物理、电离干扰。注意不纯物的混入。内标校正 可消除物理干扰。注意内标元素的选择(电离电位)。背景校正扣除光谱背
12、景谱线干扰的校正 选择无干扰的谱线 干扰系数法校正谱线干扰 稀释样品样品的前处理待测元素完全进入溶液溶解过程待测元素不损失不引入或尽可能少引入影响测定的成分试样溶剂具有较高的纯度，易于获得操作简便快速，节省经费等溶解样品的基本要求45稀释法稀释法用纯水、稀酸、有机溶剂直接稀释样品。只适用于均匀样品例）排放水、电镀液、润滑油等干式灰化分解法干式灰化分解法在马弗炉中加热样品，使之灰化 。可同时处理多个样品。注意低沸点元素Hg,As,Se,Te,Sb的挥发例）食品、塑料、有机物粉末等样品的前处理（溶液化）46u湿式分解湿式分解法法q 常规酸消化常规酸消化样品 + 酸（300）于烧杯或三角烧瓶中,在电
13、热板或电炉上加热。 常规酸消化的优点是设备简单，适合处理大批量样品；缺点是操作难度大，试剂消耗量大、每个试样的酸消耗量不等，试剂空白高且不完全一致、消解周期长、劳动条件较差。样品的前处理（溶液化）q高压密封罐消解高压密封罐消解 高压密封罐由聚四氟乙烯密封罐和不锈钢套筒构成。试样和酸放在带盖的聚四氟乙烯罐中，将其放入不锈钢套筒中，用不锈钢套筒的盖子压紧密封聚四氟乙烯罐的盖子，放入烘箱中加热。加热温度一般在120180。聚四氟乙烯罐的壁较厚，导热慢一般要加热数小时。停止加热后必须冷却才能打开。溶剂：硝酸；硝酸+过氧化氢 酸消耗量小，试剂空白低，试样消解效果好，金属元素几乎不损失，环境污染小。分解周
14、期长。q 微波消解微波消解微波消解也是一种在密封容器中消化的手段。它具有高压密封罐法所有的优点。消解速度比高压密封罐法快得多。试剂消耗量小，金属元素几乎不损失，不受环境污染，空白低。使用硝酸可消化大多数有机样品。微波炉的价格较高，试样处理能力不如干式灰化和常规消化法。器皿的洗涤使用后的玻璃及聚四氟乙烯器皿用一般蒸馏水冲洗3次。浸没在6N的硝酸溶液中5天以上。取出后分别用一般蒸馏水冲洗5次以上，高纯水冲洗3次。器皿的存放置于无灰尘处自然凉干。（可盖保鲜膜等）容量瓶可装满高纯水存放仪器的维护和保养注意事项进样前进样系统的检查。测定后进样系统的检查和清洗。废液桶中的废液要经常清理。炬管，雾化器，雾室
15、的清洗。冷却水，真空泵油，分子筛的定期更换。轴向和横向观测任选，用轴向观测提高灵敏度，横向观测分析高浓度的样品轴向和横向观测横向横向（Radial ViewRadial View）Sample IntroductionPlasmaTorchPMT detectorGratingu横向观测的特点横向观测的特点可以进行高浓度（百分含量）可以进行高浓度（百分含量）的测定的测定离子化干扰小离子化干扰小可以进行高盐有机溶剂的测定可以进行高盐有机溶剂的测定轴向轴向（Axial ViewAxial View）PMT detectorGratingPlasmaSample IntroductionTorchu
16、轴向观测的特点轴向观测的特点去除氩的去除氩的光谱、只有元素光谱光谱、只有元素光谱高效率地导入分光器高效率地导入分光器可以提高分析灵敏度可以提高分析灵敏度等离子体部的上下移动等离子体部的上下移动水冷套件的安装与卸除水冷套件的安装与卸除等离子体等离子体反射镜反射镜氩气氩气高频线圈高频线圈等等离子炬管离子炬管分光器分光器冷却管冷却管轴向和横向观测的切换干扰因素ICP-AES1光谱干扰光谱干扰!光谱干扰数量多,谱库中有50,000条特征光谱。!加上来自如金属材料、矿石和化学品分析中基体的影响，解决起来比较困难。!不同的分子特征基团如OH键，也会造成在低含量分析时的干扰。干扰因素ICP-AES1光谱干扰的消除光谱干扰的消除!离线光谱背景校正。!动态背景校正。干扰因素ICP-AES2基体效应的干扰基体效应的干扰!喷射管!样品与标准溶液粘度的差异干扰因素ICP-AES2基体效应的干扰基体效应的干扰!使用内标。干扰因素ICP-AES3电离效应的干扰电离效应的干扰 易电离的元素引起的电离干扰。易电离的元素引起的电离干扰。ICP-MS更为严重。包括增强或抑制效应。更为严重。包括增强或抑制效应。干扰因素IC
