《聊城大学《无损检测》期末复习题及参考答案.docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《聊城大学《无损检测》期末复习题及参考答案.docx（3页珍藏版）》请在第壹文秘上搜索。
1、无损检测练习题及参考答案一、判断题1 .界面上入射声束的折射角等于反射角。（）2 .标识X射线的能量与管电压、管电流均无关，仅取决于靶材料。（）3 .随着入射光子能量的增大，光电吸收系数迅速减少，康普顿衰减系数逐渐增大。（）4 .波只能在弹性介质中产生和传播。（）5 .影象颗粒度完全取决于胶片乳剂层中卤化银微粒尺寸的大小。（）6 .A型显示探伤仪，利用D.G.S曲线板可直观显示缺陷的当量大小和缺陷深度。（）7 .材料的声阻抗越大，超声波传播时衰减越大。（）8 .半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。（）9 .“灵敏度”意味着发现小缺陷的能力，因此超声波探伤灵敏度越高越好。（）10 .因为
2、近场区内有多个声压为零的点，所以探伤时近场区缺陷往往会漏检。（）参考答案：二、单项选择题1 .实际使胶片卤银颗粒感光的因素是（）。A.X或Y光量子B.a粒子C.电子D.中子2 .电磁糖法产生（）A.纵向磁场B.周向磁场C.交变磁场D.摆动磁场3 .使工件退磁的方法是：（）A.在居里点以上进行热处理B.在交流线圈中沿轴线缓慢取出工件C用直流电来回作倒向磁化，磁化电流逐渐减小D.以上者是4 .散射线的主要成份是低能电磁辐射，它是由光子在哪一过程中减弱而产生的（）oA.光电过程B.康普顿过程C.电子对过程D.电离过程5 .超声波在介质中的传播速度与（）有关。A.介质的弹性B.介质的密度C.超声波波型
3、D.以上全部6 .哪一因素变化，会使胶片特性曲线形状明显改变？（）A.改变管电压B.改变管电流C.改变焦距D.改变显影条件7 .磁力线的特性之一是（）oA.沿直线进行B.形成闭合回路C.存在于铁磁材料内部D.以上都是8 .在什么条件下尺寸较大的源摄得的射线底片质量可与尺寸较小的源相当？（）A.增大源到胶片距离B.采用较厚的铅增感屏C.使用速度快的胶片D.缩短曝光时间9 .渗透液渗入表面缺陷的原因是（）A.渗透液的粘性B.毛细管作用C.渗透液的化学作用D.渗透液的重量10 .在金属材料的超声波探伤中，使用最多的频率范围是：（）A.10-25MHzB.I-100OKHzC.15MHzD.大于200
4、00MHZ11 .A型扫描显示中，荧光屏上垂直显示大小表示：（）A.超声回波的幅度大小B.缺陷的位置C.被探材料的厚度D.超声传播时间12 .使用磁规磁化时，感应磁场强度最大的部位是：（）A.磁挽的南极和磁挽的北极附近B.磁极中间的区域C.磁极外侧较远区域D.上述区域磁感应强度一样大13 .脉冲反射超声波探伤仪中，产生时基线的电路单元叫做（）。A.扫描电路B.触发电路C.同步电路D.发射电路14 .下列关于施加磁粉的叙述中，正确的是：（）A.将磁悬液施加于探伤面上，浇注压力尽可能大一些B.剩磁法是在通磁化电流时施加磁粉的C用剩磁法时，在施加磁粉的操作结束以前，探伤面不得与铁磁物体的接触D.连续
5、法适用于检出螺纹部分的周向缺陷15 .管电压、管电流不变，将X射线管阳极由铜换成鸽，产生X射线线质如何变化？（）A.A.变硬B.变软C.不变D.不一定16 .当材料中存在表面和近表面缺陷时，在工件磁化后，就会在缺陷附近产生一个磁场，这个磁场称为：（）A.剩余磁场B.磁化磁场C.漏磁场D.感应磁场17 .由材料晶粒粗大而引起的衰减属于（）oA.扩散衰减B.散射衰减C.吸收衰减D.以上都是18 .对于厚度差较大的工件进行透照时，为了得到黑度和层次比较均匀的底片，一般做法是（）A.提高管电流；B.提高管电压；C.增加曝光时间；D.缩短焦距。19 .仪器的垂直线性好坏会影响：（）A.缺陷的当量比较B.
6、AVG曲线面板的使用C.缺陷的定位D.以上都对20 .适合于磁粉探伤的零件是：（）A.顺磁性材料B.铁磁性材料C.有色金属D.抗磁性材料参考答案：CADBDDBABCAAACCCBBAB三、填空题1.铁磁材料的磁滞回线上Bm、Br、HC分别叫做、。2 .射线辐射防护的三种基本方式是,o3 .为检出高强度钢轴类工件表面的周向裂纹,应采用纵向磁化，检验法、磁悬液探伤。4 .涡流检测常用的探头主要有,三种类型。5 .X射线是利用的方法产生的，它具有连续X线谱和特征X线谱，丫射线是利用的方法产生的，它只具有X射线中的后一种线谱。6 .影响涡流检测的三个主要因素是被检材料的、o参考答案：1.磁感应饱和强
7、度剩余磁感应强度矫顽力2距离防护屏蔽防护时间防护3 .经发兰处理剩磁荧光磁粉4 .线圈穿过式探头式插入式5 .高速运动的电子撞击金属靶放射性同位素物质衰变6 .电导率磁导率几何形状四、问答题1 .何谓几何清晰度？其主要影响因素有哪些？2 .什么是影响射线照相影象质量的三要素？参考答案：1.答：由于射线源具有一定尺寸。所以照相时工件轮廓或缺陷边缘都会在底片上产生半影。这个半影宽度便是几何不清晰度Ug,Ug的最大值Ugmax发生在远离胶片的工件表面。Ug的计算式：Ug=dfb(F-b)；Ugmax=dfL2Ll式中：df：射源尺寸：F：焦距；b：缺陷至胶片距离；1.1：焦点至工件表面距离；L2工件表面至胶片距离。由以上公式可知，Ug值与射源尺寸和缺陷位置或工件表面至胶片距离成正比，与射源至工件表面距离成反比。答：影响射线质量的三个要素是：对比度、清晰度、颗粒度。射线照相对比度定义为底片影象中相邻区域的黑度差。射线照相清晰度定义为胶片影象中不同梯度区域分界线的宽度。用来定量描述清晰度的是“不清晰度)射线照相清晰度对视觉产生影响的底片影象黑度的不均匀程度。
