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1、ICS31.030CCSL90团体标准T/CPIAXXXX-202X晶体硅光伏电池用浆料第4部分:正面和背面银浆固化型银浆PasteusedforcrystaIlinesiIiconphotovoltaic(PV)cells-Part4：Front-sideandrear-sidesiIverpasteCuredsiIverpaste（报批稿）在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。XXXX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施中国光伏行业协会发布晶体硅光伏电池用浆料第4部分：正面和背面银浆固化型银浆1范围本文件规定了晶体硅光伏电池用的固化型银浆的术语和定义、要求、试验
2、方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于制备晶体硅光伏电池正面和背面电极用的固化型银浆。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定GB/T92862021色漆和清漆划格试验GB/T17472微电子技术用贵金属浆料规范GB/T17473.2微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定GB/T17473.5微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定GB/T17473.7微电子技术用贵金属浆料
3、测试方法可焊性、耐焊性测定GB/T31985光伏涂锡焊带3术语和定义GB/T17472界定的术语和定义适用于本文件。4要求d1外观晶体硅光伏电池用固化型银浆应为均匀的膏状物，无肉眼可见夹杂物、颗粒或结块。d5基本性能晶体硅光伏电池用固化型银浆的基本性能应符合表1的规定。表1晶体硅光伏电池用固化型银浆的基本性能种类固体含量%细度(4th)m粘度（使用BrookfieldDVI粘度计测试；转子型号：SC4-14,在此测试条件卜.的参考数值）主栅银浆标称值1.520300Pas,标称值10%2300Pas,标称值7.5%副棚银浆标称值1.510300Pas,标称值10%N300Pas,标称值7.5$
4、44成膜后性能晶体硅光伏电池用固化型银浆成膜后的性能应符合表2的规定。表2晶体硅光伏电池用固化型银浆成膜后的性能种类外观体积电阻率cm接触电阻率mQcm2可焊性附着力N/mm耐老化性能主栅表面平整致密；颜色呈均匀光亮的白色1020良好21.5由供需双方协商确定副栅表面平整致密；颜色呈均匀光亮的白色510无无由供需双方协商确定注：OBB工艺中，对副棚可焊性要求良好：附着力要求合格5试验方法41试验条件除非另有规定，固化型银浆的试验温度应在（1535）,相对湿度（3080）%试验环境下进行。耳）外观检查固化型银浆及其成膜后的外观应在照度不小于100OIUX的环境下目视检查。银浆外观检查前应充分搅拌
5、均匀。勺1固体含量5.3.1仪器设备试验所需仪器设备如下：a）天平：精确度为0.0001g；b）鼓风式恒温烘箱：稳定使用温度可以达到150,控温精度1C,底板加热（使用电热管加热），温度传感器位于烘箱上方，隔板采用镂空形式；c）陶瓷容量器（用烟2ml4ml或者陶瓷片4cm2-8cm2）；d）干燥器：附带变色硅胶干燥剂；e）将陶瓷容量器放入鼓风式恒温烘箱中烘干5min,烘干后的陶瓷容量器放置于干燥器中保存备用。5.3.2试样将样品搅拌均匀，称取三份lgL5g的试料，准确至0.0001g,分别置于已恒重的陶瓷母期中或陶瓷片上。5.3.3步骤将装有试料的陶瓷用烟或陶瓷片置于鼓风式恒温箱中，在保证氯气
6、充分的情况下，升温至浆料固化温度，保温60min.关闭电源，打开炉门冷却至（80100）,取出装有试料的陶瓷容器，置于装有干燥剂的干燥器中，冷却至室温，称重,5.3.4结果计算5. 3.4.1银浆中固体质量分数按照公式（1）计算：W=EXl%（1）式中：从，银浆中固体的质量分数；m陶瓷容器的质量，单位为克（g）;用加热之前陶瓷容器与试料质量之和，单位为克（g）；耽加热之后陶瓷容器与试料质量之和，单位为克（g）。5.3.4.2结果表示至小数点后两位，有效数字的尾数按照GB/T8170数值修约规则进行。5.3.4.3取三份试料测试结果的算数平均值作为测试结果。5.3.4.4三份试料测试结果相互之间
7、的差值绝对值均不应大于平均值的1%,否则重新测试。RA细度取三份试样，按照GB/T17473.2的规定进行测试。记录刻槽上从顶部到底部出现第四个连续断点地方的读数，该读数为“细度（4,）“。5S粘度5.5.1旋转粘度计法（仲裁法）按照GB/T17473.5的规定测试，设置测试温度为（250.5）,调节转速10r/min,扭矩百分比在10%90%之间，其他条件由供需双方决定。待读数稳定后读取粘度数据。取两份平行试样，结果取平均值。两个平行试样测试值之差应不大于平均值的3%。5.5.2锥/板粘度计法按照GB/T17473.5的规定测试。设置测试温度为（250.5）C,调节转速或剪切率，使扭矩百分比
8、控制在10%90%之间，其他条件由供需双方决定。待样品温度稳定至测试温度后开始测试，读取30s或60s或其它特定时间后的粘度数据。取两份平行试样，结果取平均值。当粘度214Pas时，两个平行试样测试值之差应不大于平均值的3%；当粘度VMPa-s时，两个平行试样测试值之差应不大于平均值的5%。KA体积电阻率按照附录A的规定进行测定。57接触电阻率按照附录B的规定进行测定。5H可焊性按照GB/T17473.7的规定进行测定5Q附着力5. 9.1主栅附着力的测定按照附录C的规定进行。5.2.2 副栅附着力的测定按照附录D的规定进行。Km可靠性试验5.10.1 仪器设备鼓风烘箱：稳定使用温度可以达到1
9、50,控温偏差1C,底板加热（使用电热管加热），温度传感器位于烘箱上方，隔板采用镂空形式。5.10.2 试样制备按照附录A的规定制备试样。5.10.3 老化打开烘箱电源和鼓风，设置保温温度（温度设置由供需双方确定）。待烘箱温度稳定后，将试样放入烘箱，放置位置距离加热板距离力20cm,距离温度传感器距离W15cm,保温一段时间后自然冷却至室温（保温时间由供需双方确定）。5.10.4 可靠性测试附着力按照附录A的规定进行，步躲如下:a）测试样品老化测试前的附着力；b）试样样品老化后的附着力；c）对比老化测试前后附着力的比值或读取测试后的绝对值。6检验规则A1检验分类固化型银浆的检验分为型式检验和出
10、厂检验。6，型式检验6. 2.1通则在有下列情况（包含但不限于）之一时，应进行型式检验：a）新产品生产时；b）产品转厂生产时：c）正式生产后，材料配方、生产工艺有较大改变，可能影响产品性能时；d）停产时间超过六个月，恢复生产时；e）出厂检验结果与上次型式检验结果有较大差异时；f）质量技术监督机构检验时；g）合同规定提出型式检验要求时。7. 2.2抽样由同一次投料生产出的固化型银浆为检验样本。每批产品在随机抽取1瓶，取适量银浆作为检验样品。8. 2.3检验项目型式检验项目应符合表3的要求。表3检验项目检验项目要求章条号试验方法章条号型式检验出厂检验银浆外观4.15.2固体含量4.25.3细度4.
11、25.4粘度4.25.5成膜后的外观4.35.2体积电阻率4.35.6接触电阻率4.35.7可焊性4.35.8附着力4.35.9耐老化性能4.35.10供需双方协商确定6.2.4合格判定当所有型式检验项目符合本文件的要求时，则型式检验合格；若有任一型式检验项目不符合本文件的要求，则型式检验不合格。6?出厂检验6.3.1组批由同一次投料生产出的固化型银浆为一个检验样本。6.3.2抽样每批产品在100瓶以下时随机抽取1瓶，取适量银浆作为检验样品。每批产品在100瓶以上，每增加100瓶（不足100瓶时以100瓶计）多抽取1瓶产品取样。6.3.3检验项目出厂检验项目应符合表3的要求。银浆外观检查为全数
12、检验，其他项目以批次为单位进行抽检。6.3.4检验结果的判定所有出厂检验项目，当试验结果中有不合格项目时，应从该批产品中另取双倍数量的试样进行重复试验。重复试验结果全部合格时，则判该批产品合格。若重复实验结果仍有不合格项目，则判该批产品不合格。7标志、包装、运输贮存、质量证明书71标志产品标识至少应包含以下信息：a）制造商名称；b）产品名称；c）产品牌号；d）批号；e）产品净重量；f）保质期；g）生产日期；h）储存条件（温度）；D安全相关提示信息。75包装产品应密封分装，包装物应耐腐蚀、不易破损，并加封条。71运输密封包装好的固化型银浆，运输前应装入结实牢固的包装箱中，包装箱四周应充填安全物质
13、。包装箱中应放入干冰或冰袋，保证运输过程中浆料温度较低。产品运输过程中应避免污染和机械破损，避免温度过高，避免阳光直接照射。74贮存产品应在-30-5C的环境条件下密封储存,避免强光直射。自生产之日起有效储存期为6个月。打开密封包装后，产品应尽快使用（建议24h内用完），应存放于温度-30C-5C的环境条件下。74质量证明书每批产品应附有质量证明书，至少应包含以下内容：a）制造商名称、地址、电话、传真；b）产品名称；c）产品牌号；d）批号；e）产品净重量；f）生产日期；g）保质期；h）各项分析检验结果和技术监督部门印记；i）标准编号。附录A（规范性）体积电阻率测试A.1范围本附录规定了晶体硅光
14、伏电池用固化型银浆体积电阻率的测试方法。本附录适用于晶体硅光伏电池用固化型银浆体积电阻率的测定。A.2仪器与设备所需仪器与设备如下：a）定制印刷网版；b）数显万用表（电阻测试范围：100-120M）；c）隧道烧结炉。A.3材料晶体硅蓝膜片：未印刷电极。A.4试样制备A.4.1将待测固化型银浆充分搅拌均匀，使用定制网版手动在晶体硅蓝膜片上印刷银浆样条，如示意图A.1所示。推荐长度（3-7）cm、宽度（37）mm、厚度（3050）m,A.4.2按照制造商提供的工艺条件烘干并经隧道烧结炉低温固化。A.4.3每份样品至少有3个试样，测试结果可有效读取。A.5体积电阻率的测试A.5.1用直尺与笔标记待测区间长度L,然后使用万用表的两组表头探针（开尔文/四线法测试）分别搭在标记的头尾浆料处，读出万用表电阻读数记为R。A.5.2测量固化后银浆样条的宽度W（精确到0.0Imm）及厚度h（精确到0.01m）,并计算出样条的横截面积为S=WXho图A. 1体积电阻率印刷示意图A.6测试结果处理A. 6.1根据公式（A.1）处理测试结果，计算银浆的
